Low-Frequency Noise gewinnt zunehmend an Bedeutung, je weiter Halbleiterbauelemente skaliert werden. Im ersten Beitrag unserer Flicker-Noise-Reihe erklären wir die physikalischen Ursachen von Niederfrequenzrauschen, den Zusammenhang mit 1/f-Rauschen und Random Telegraph Noise sowie die Bedeutung mikroskopischer Defektdynamiken für Leistung, Zuverlässigkeit und Bauelementmodellierung.