Flexible Bauteilcharakterisierung

Mit der Windows®-Steuersoftware lassen sich unterschiedliche Bauelemente und Schaltungen charakterisieren, darunter:

• FETs wie CMOS, HVMOS und OTFT
• Bipolartransistoren
• Dioden, Widerstände und weitere Halbleiterbauelemente
• analoge Schaltungen, z. B. Verstärker

Vorgefertigte und flexibel anpassbare Messvorlagen unterstützen reproduzierbare Messabläufe. Messungen sind sowohl auf Wafer-Ebene als auch an Bauelementen im Gehäuse möglich.

Automatisierte Messabläufe und Erweiterbarkeit

Das System passt die Messeinstellungen automatisch an den gewählten DC-Arbeitspunkt des Prüflings an. So lassen sich Messgenauigkeit, Auflösung und Messdauer gezielt auf die jeweilige Anwendung abstimmen. Für Messreihen mit höherem Durchsatz steht ein alternativer Messmodus mit reduzierter Auflösung zur Verfügung.

Optionale Erweiterungen:

• Integration halbautomatischer Wafer-Prober
• Messung von DC- und C-V-Kennlinien

Damit eignet sich das System für präzise Einzelmessungen, wiederholbare Messreihen sowie Anwendungen in Forschung, Entwicklung, Qualitätssicherung und Modellvalidierung.